Регистр ВРR
имеет длину в один бит. Он используется как кратчайший обходной путь для последовательных данных, когда остальные регистры не участвуют в обмене.
Регистр BSR
представляет собой длинный сдвигающий регистр, каждым битом которого являются пограничные ячейки, установленные на всех входных и выходных сигналах процессора. Для двунаправленных сигналов (или их групп), кроме собственно информационных ячеек регистра, соответствующих внешним сигналам, имеются и управляющие ячейки, задающие режим работы информационных ячеек. К примеру, у процессоров P6 длина BSR
составляет 159 бит.
Регистр DID
длиной 32 бита содержит идентификатор производителя, код устройства и номер версии, по которым TAP-контроллер может распознать, с каким устройством он имеет дело.
Регистр IR
служит для хранения исполняемой тестовой инструкции. Его длина зависит от тестируемого устройства. Для всех устройств обязательными являются инструкции BYPASS
, IDCODE
, SAMPLE
и EXTEST
.
Инструкция BYPASS
(все биты кода — единичные) предназначена для подключения однобитного обходного регистра, обеспечивая скорейшее прохождение данных через устройство; при этом оно никак не реагирует на проходящий поток. Вход TDI
обычно «подтягивают» резистором к высокому уровню, при этом разрыв цепочки JTAG приведет к подключению обходных регистров во всех устройствах после точки обрыва. Это исключает возможные непредсказуемые действия устройств в случае обрыва.
Инструкция идентификации IDCODE
(младшие биты кода — 10) подключает к интерфейсу регистр DID
, позволяя считать его содержимое (поступающие входные данные не могут изменить его значение).
Инструкция SAMPLE/PRELOAD
(младшие биты кода — 01) имеет два назначения. Когда TAP-контроллер находится в состоянии Capture-DR (см. ниже), эта инструкция позволяет выполнить моментальный «снимок» состояния всех внешних сигналов без воздействия на работу устройства. Значение сигналов фиксируется по положительному перепаду TCK
. В состоянии Update-DR по этой инструкции данные загружаются в выходные ячейки тестового порта (но еще не на выходы устройства), откуда впоследствии они будут выводиться (подаваться на выводы процессора) по инструкции EXTEST
. Данные загружаются по спаду сигнала TCK
.
Инструкция EXTEST
(младшие биты кода — 00) предназначена для проверки внешних цепей (по отношению к тестируемому устройству). При этом на выходные выводы подаются сигналы, предварительно записанные в регистр BSR
, а состояние входных сигналов фиксируется в этих регистрах. Двунаправленные сигналы предварительно конфигурируются соответствующими им управляющими битами ячеек BSR
.
Стандарт 1149.1 предусматривает и инструкцию тестирования внутренней логики устройства INTEST
, но ее поддерживают не все устройства.
Контроллер тестового порта (TAP-controller) представляет собой синхронный конечный автомат, изменяющий состояние по фронту сигнала TCK
и по включению питания. Сменой состояний управляет сигнал TMS
(Test Mode State), воспринимаемый по положительному перепаду TCK
. Граф состояний и переходов управляющего автомата представлен на рис. 11.8. Около стрелок переходов указаны значения сигнала TMS
во время фронта TCK
.
Рис. 11.8. Граф состояний и переходов контроллера TAP
В исходное состояние Test-Logic-Reset контроллер автоматически переходит по включении питания и из любого другого состояния может быть переведен высоким уровнем TMS
, удерживаемым не менее пяти тактов TCK
. Для перевода в состояние Test-Logic-Reset иногда используют и дополнительный сигнал TRST
. В этом состоянии тестовая логика запрещена, и устройство работает в нормальном режиме.
Состояние Run-Test/Idle является промежуточным между выполнением тестовых операций. В этом состоянии регистры не изменяют своего значения.
В состоянии Capture-DR во время выполнения инструкций EXTEST
и SAMPLE/PRELOAD
сканирующий регистр фиксирует только данные на входных линиях.
В состоянии Shift-DR данные с TDI
продвигаются через подключенный сдвиговый регистр на выход TDO
.
В состоянии Pause-DR контроллер временно запрещает продвижение данных через сдвиговый регистр.
В состоянии Update-DR по спаду TCK
сигналы из сдвигового регистра фиксируются на выходах тестовых ячеек.
Читать дальше