Виталий Бронштэн - Серебристые облака и их наблюдение

Таким образом, мы будем иметь две системы эквиденсит I порядка: одну для более слабых, а другую для более ярких частей облачного поля. (В ходе дальнейшей обработки они объединяются.) При большом перепаде яркостей в облачном поле может потребоваться и третья система эквиденсит, т. е. процесс их получения повторяется трижды.

Поскольку ширина эквиденсит I порядка может быть слишком велика (это зависит от распределения яркостей и контрастов в облачном поле, а также от условий проведения самой эквиденситометрии), процесс контратипирования может быть повторен. При этом получаются эквиденситы II порядка, представляющие собой парные линии, соответствующие геометрическим местам точек равной оптической плотности по обе стороны эквидепситы I порядка. Дальше, если надо, получают таким же путем эквиденситы III порядка.

Для иллюстрации метода на рис. 52 приводим системы эквиденсит, полученные по фотографии планеты Юпитер 13–14 марта 1968 г. в Астрофизическом институте Академии наук Казахской ССР. Буквами А, В, С, D обозначены последовательные изображения но мере увеличения первой выдержки (в случае Юпитера пришлось проводить контратипирование 4 раза). Цифры 1, 2, 3 соответствуют эквиденситам I, II, III порядка.

Рис. 52. Эквиденситы Юпитера, полученные по фотографии 13–14 марта 1968 г. (вверху) в Астрофизическом институт AН КаэССР:

А, В, С, D— последовательные стадии контратипирования (с ростом первой экспозиции); 1, 2, 3 — эквиденситы I, II, III порядков.

Как и в случае обычной фотографической фотометрии, описываемый метод требует проведения калибровки.

Для этого удобнее всего впечатывать на первую эквиденситограмму специальный непрерывный фотометрический клин на пленке или пластинке, который кладется рядом с негативом или накладывается на незасвеченный участок последнего (таковым практически является часть негатива с изображением земной поверхности). Эквиденситы клина обычно имеют форму цепных линий, поэтому измеряют положения эквиденсит вдоль оси симметрий этих фигур.

Непрерывный фотометрический клин нетрудно изготовить самому с помощью приспособления, описанного М. Е. Набоковым и изображенного на рис. 53.

Рис. 53. Ящик-Книга — устройство для изготовления фотометрического клина (по М. Е. Набокову). Справа — форма кривой выреза.

Это — светонепроницаемый ящик, имеющий на передней торцевой стенке треугольную прорезь, ограниченную с боков двумя симметричными показательными кривыми (экспонентами). Форма этих кривых определяется уравнением

у= ± а х, (74)

где х, у — прямоугольные координаты точки на кривой, отсчитываемые от точки, расположенной на середине оси прорези (на рис. 53 справа — точка О ), а — основание экспоненты, в качестве которого удобно выбрать число, 10 0,1~= 1,26. Тогда форма кривой будет близка к изображенной на рис. 53.

Вырез в передней стейке делается в тонком картоне, который укрепляется на более твердое (например, фанерное) основание. В этом основании тоже делается вырез, но в виде обычного треугольника, более широкого, чем вырез в картоне.

Задняя стенка ящика имеет рамку для вставки кассеты с пластинкой. Точно посередине ящика вставляется вертикальная ширма, закрывающая ровно половину ящика. Все внутренние поверхности в ящике должны быть зачернены, а прорезь в передней стенке прикрыта матовым стеклом.

Экспозиции при изготовлении фотометрического клина подбираем опытным путем. Очевидно, что разные участки пластинки из-за наличия ширмы в середине ящика будут получать разную освещенность: левый (если смотреть со стороны прорези) край пластинки будет освещен всем отверстием, правый — только самой узкой его частью. Освещенность будет пропорциональна площади освещающей поверхности или при данной форме кривой величине 10 0,1х. Отношение освещенностей для двух точек клина с координатами х 1и х 2будет равно

а в шкале звездных величин [10] Напомним, что шкала звездных величии — логарифмическая: разность звездных величии пропорциональна логарифму отношения блеска с коэффициентом пропорциональности 2,5. Заменяя блеск освещенностью, мы можем распространить эту шкалу и на протяженные объекты.