Ден Томел - Поиск неисправностей в электронике

21. Для отключения транзистора для поиска неисправностей:

а) закоротить эмиттер и базу;

б) закоротить базу и коллектор;

в) закоротить затвор и анод;

г) «а» или «б»;

д) ничего из перечисленного.

22. Тиристор можно рассматривать как встречное включение ___ диодов, и он состоит из анода, катода и ___.

а) двух, анода;

б) трех, управляющего электрода;

в) четырех, базы;

г) двух, эмиттера;

д) трех, анода.

23. Когда вы проверяете ИМС, работоспособность которых изменяется в зависимости от температуры, наилучшим методом является:

а) проверка напряжения;

б) проверка сопротивления;

в) нагревание и /или замораживание;

г) проверка тока;

д) шунтирование.

24. Лампа с тремя сетками это:

а) триод;

б) тетрод;

в) пентод;

г) многосеточная лампа;

д) мощная лампа.

25. Какой из перечисленных способов не используется обычно при поиске неисправностей электронных ламп:

а) постукивание;

б) устройство проверки ламп;

в) «Шунтирование»;

г) замена;

д) оба: «а» и «б».

26. Затвор в полевом транзисторе обычно:

а) обратно смещен;

б) прямо смещен;

в) не смещен;

г) ничего из перечисленного.

27. МОП транзистор часто называют:

а) полевой транзистор;

б) биполярный транзистор;

в) полевой транзистор с изолированы затвором МДП;

г) тиристор.

28. МОП транзистор с индуцированным p-каналом проводит при:

а) прямом смещении;

б) обратном смещении;

в) нулевом смещении;

г) ничего из перечисленного.

29. Ток в МОП транзисторе с индуцированным n-каналом уменьшается при:

а) прямом смещении;

б) обратном смещении;

в) нулевом смещении;

г) ничего из перечисленного.

30. Ионистор иначе называется:

а) двухслойный конденсатор;

б) диэлектрический конденсатор;

в) конденсатор накопления энергии;

г) электростатический конденсатор.

1. Перечислите и поясните семь причин выхода из строя электронных и электрических устройств.

2. Перечислите и поясните четыре чувства, которые обычно используются при поиске неисправностей.

3. Каковы четыре причины неисправностей в схемах? Расскажите, чем они отличаются друг от друга.

4. Каковы характеристики короткого замыкания?

5. Каковы характеристики обрыва в схеме?

6. Каковы характеристики замыкания на землю в схеме?

7. Каковы характеристики наличия механических проблем в схеме?

8. Объясните разницу между терминами «шунтирование» и «замена».

9. Опишите метод контроля прохождения сигнала.

10. Перечислите и объясните различные типы технических чертежей.

11. Опишите способы поиска неисправностей конденсаторов.

12. Назовите несколько типов конденсаторов.

13. Опишите структуру диода.

14. Объясните, как тестировать диод.

15. Что такое кристаллический детектор?

16. Опишите структуру транзистора.

17. Опишите, как тестировать транзистор.

18. Опишите, как тестировать тиристор.

19. Опишите различные методы, которые используются для поиска неисправностей транзисторов.

20. Опишите различные методы, которые используются для поиска неисправностей интегральных микросхем.

21. Опишите различия между некоторыми типами электронных ламп.

22. Опишите основные способы проверки электронных ламп.

23. Почему использовать специальные тестеры для проверки электронных ламп следует с осторожностью?

24. Что такое тиристор?

25. Что такое тиратрон?

26. Расскажите, как проверять полевой транзистор.

27. Что такое МОП?

28. Расскажите о различных типах МОП-транзисторов.

29. Расскажите, как проверить МОП-транзистор.

30. На что следует обратить особое внимание при транспортировке и работе с МОП-транзисторами?

По мере того как электронное оборудование и изделия становятся все более сложными, постоянно возрастает потребность в средствах их тестирования. В настоящее время используются сотни различных приборов, предназначенных для этого. Правильное использование оборудования увеличивает быстроту и точность локализации и корректировки проблемы. В данной главе представлены некоторые наиболее популярные типы тестовых инструментов, которые используются специалистами.

Мастер, прежде всего, должен определить соотношение затрат и результатов при финансовых вложениях в контрольно-измерительное оборудование и помнить о том, что затраты могут не оправдать ожиданий. Ошибка в расчетах, по причине отсутствия качественного оборудования влечет за собой негативные эмоции от безрезультатной работы и коммерческие потерн. Выбирая средства тестирования, необходимо принимать во внимание: